TU Berlin
Die Erweiterung des Bereichs Mikroelektronik an der Technischen Universität Berlin führte 1987 zur Gründung des Forschungsschwerpunktes „Technologien der Mikro¬peripherik“ unter der Leitung von Professor Herbert Reichl, unterstützt vom Bundes¬ministerium für Bildung und Forschung und dem Berliner Senat. Der Forschungsschwerpunkt ist heute integriert in der Fakultät Elektrotechnik und Informatik und wird von Prof. Dr.-Ing. Martin Schneider-Ramelow geleitet. Der Forschungsschwerpunkt „Technologien der Mikroperipherik“ beschäftigt sich mit der Entwicklung und Verbesserung von sehr kleinen elektronischen Bauteilen und Systemen, sogenannten Mikrosystemen. Diese Systeme sind in vielen modernen Geräten enthalten – zum Beispiel in Autos, medizinischen Geräten oder Kommunikationssystemen. Ein zentrales Ziel ist es, möglichst viele Funktionen auf kleinstem Raum unterzubringen. Dafür müssen die einzelnen Bauteile nicht nur elektrisch, sondern auch mechanisch (z. B. stabil) und thermisch (z. B. temperaturbeständig) gut funktionieren. Um das zu erreichen, werden spezielle Programme zur Planung und Simulation der Systeme eingesetzt. Ein besonders wichtiger Aspekt der Forschung ist es, herauszufinden, wie zuverlässig diese kleinen Systeme sind – also wie gut und lange sie unter verschiedenen Bedingungen funktionieren. Die Forscherinnen und Forscher arbeiten eng mit großen Firmen wie Bosch und Siemens sowie mit kleineren, innovativen Unternehmen zusammen. Das Ziel ist es, die neuen Erkenntnisse aus der Forschung möglichst schnell in die Praxis zu bringen. Es besteht außerdem eine enge Zusammenarbeit mit dem Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM), mit dem seit vielen Jahren gemeinsame Projekte durchgeführt werden. Die Labore und technischen Geräte des Forschungsbereichs wurden so erweitert, dass komplexe Untersuchungen möglich sind. Moderne Simulationsprogramme helfen dabei, die Zusammenhänge in den Systemen besser zu verstehen und zu verbessern. Weitere wichtige Themen der Arbeit sind das Design der Mikrosysteme, ihre genaue Untersuchung und die Erforschung ihrer Zuverlässigkeit.
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